菲希爾 X 射線熒光鍍層測(cè)厚儀基于 X 射線熒光分析原理。當(dāng)儀器發(fā)射的 X 射線照射到樣品表面時(shí)，鍍層及基體材料中的原子會(huì)吸收 X 射線的能量，使內(nèi)層電子被激發(fā)并躍遷到高能級(jí)。當(dāng)這些電子回到低能級(jí)時(shí)，會(huì)釋放出具有特定能量的熒光 X 射線。不同元素發(fā)射的熒光 X 射線能量不同，通過(guò)檢測(cè)這些熒光 X 射線的能量和強(qiáng)度，結(jié)合儀器內(nèi)置的校準(zhǔn)曲線和算法，就可以精確測(cè)量出鍍層的厚度以及元素組成。
一）高精度測(cè)量
菲希爾 X 射線熒光鍍層測(cè)厚儀采用先進(jìn)的探測(cè)器和信號(hào)處理技術(shù)，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)鍍層厚度的高精度測(cè)量。其測(cè)量精度可以達(dá)到微米甚至納米級(jí)別，能夠滿足各種精密工業(yè)生產(chǎn)的需求。例如，在電子元器件制造中，對(duì)于芯片引腳的鍍鎳、鍍金層厚度的測(cè)量，能夠確保鍍層厚度均勻且符合設(shè)計(jì)要求，從而提高電子元器件的性能和可靠性。
（二）多元素分析
該儀器不僅可以測(cè)量鍍層厚度，還能夠同時(shí)分析鍍層中的多種元素及其含量。通過(guò)對(duì)元素組成的分析，可以判斷鍍層的質(zhì)量和成分是否符合標(biāo)準(zhǔn)。比如在珠寶制造行業(yè)，通過(guò)分析金銀飾品表面鍍層中的元素成分，可以檢測(cè)出是否存在雜質(zhì)或其他合金元素，確保產(chǎn)品的純度和質(zhì)量。
（三）非接觸式測(cè)量
采用非接觸式測(cè)量方式，不會(huì)對(duì)樣品表面造成損傷，適用于各種形狀和尺寸的樣品。無(wú)論是平面、曲面還是不規(guī)則形狀的工件，都可以進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。這在汽車制造、航空航天等行業(yè)中具有重要意義，因?yàn)檫@些行業(yè)的零部件往往具有復(fù)雜的形狀和高精度的要求。
