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菲希爾X射線測厚儀XULM240信息
點擊次數(shù)：60 更新時間：2025-07-07 打印本頁面 返回
在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)和質量檢測領域，精準測量鍍層厚度與深入分析材料成分是確保產(chǎn)品質量、性能及使用壽命的關鍵環(huán)節(jié)。菲希爾 XULM240 作為一款先進的 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，憑借其技術性能與創(chuàng)新設計，成為眾多行業(yè)信賴的得力工具。
測量原理：X 射線熒光光譜法，精準無損檢測
菲希爾 XULM240 運用 X 射線熒光光譜法進行測量。當儀器的 X 射線源發(fā)射出的 X 射線照射到樣品表面時，樣品中的元素會吸收 X 射線能量，并激發(fā)出特征 X 射線熒光。不同元素的特征 X 射線熒光具有特定的能量和波長，通過探測器精確測量這些熒光的能量和強度，再利用專業(yè)算法進行分析，就能準確確定樣品中所含元素的種類及含量，進而精確計算出鍍層厚度。這種測量方式屬于無損檢測，不會對樣品造成任何損傷，既能保障樣品完整性，又能確保測量結果的準確性與可靠性，適用于各類珍貴或對完整性要求較高的樣品檢測。
