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Fischer膜厚儀DualScope MP0廠家良心推薦 DualScope MP0膜厚儀可測量金屬基材上的各類型單涂層厚度，一款儀器，兩種測量原理。體積小巧，操作便捷，是廣大客戶的理想選擇。

涂層測厚儀德國Fischer品牌代理 Helmut Fischer主要產(chǎn)品：Helmut Fischer測試樣片、Helmut Fischer涂層測厚儀、Helmut Fischer X射線熒光測量儀、Helmut Fischer微硬度測試儀、Helmut Fischer鐵素體儀、Helmut Fischer氧化膜密閉性測試儀、Helmut Fischer電導率測試儀等

Fischer臺式熒光測厚儀/光譜儀 FISCHERSCOPE® X-RAY XAN系列配置多樣，可以滿足非常廣泛的應(yīng)用。它在快速分析和用戶友好操作方面具備特殊的優(yōu)勢，如用于貴金屬和金合金的分析。也可以用于電子和線路板行業(yè)超薄鍍層分析。

Fischer X-RAY XUL/XULM熒光測厚儀 對于FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列來說，X射線源和接收器位于測量室的下方，這樣可以快速方便地定位樣品。除此以外，視頻窗口也可以輔助定位，儀器前方的大控制臺簡化了操作，特別是在日常生產(chǎn)中測量大量部件時特別有用。

Fischer孔銅測厚儀原裝探頭ESL080B ESL080B是一個針尖形狀的測量探頭，測量時需要插入通孔內(nèi) 。一個外部的金屬護套保護測量線圈不受腐蝕和機械損壞。