DualScope FMP40測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)的詳細(xì)資料：

DualScope FMP40測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)

This universal instrument can be used to measure numerous coatings both on iron/steel and on non-ferromagnetic metals and non-conducting carrier materials. 

DualScope FMP40測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)， 配置ED10兩用探頭，在同時(shí)測(cè)量 Zn/Fe、Cu/Fe和鋁氧極氧化，以及 Fe、Cu、Al、Zn-Alloy、Cu-Alloy等基材上的油漆、塑料、環(huán)氧樹酯等厚度時(shí)不用更換探頭、方便快捷。

該款儀器已經(jīng)廣泛應(yīng)用于汽車、航空、電鍍和機(jī)械加工等等領(lǐng)域

如配置ED10兩用探頭，在同時(shí)測(cè)量 Zn/Fe、Cu/Fe和鋁氧極氧化，以及 Fe、Cu、Al、Zn-Alloy、Cu-Alloy等基材上的油漆、塑料、環(huán)氧樹酯等厚度時(shí)不用更換

探頭、方便快捷。

該儀器也可以配置磁感應(yīng)和渦流單用探頭以適應(yīng)不同的測(cè)量之需求

配置ETA3.3H探頭，能達(dá)到的技術(shù)指標(biāo)：

測(cè)量范圍： 0 ～ 1 200μｍ （45 mils）

測(cè)量精度： 0～50　μｍ，  ± 0.25 μｍ；

          50～8000μｍ，  ± 0.5 ％；

          800～1200μｍ，   < 2.5%

配置EGA1.3探頭，能達(dá)到的技術(shù)指標(biāo)：　　

測(cè)量范圍： 0 ～ 1 500μｍ   （45 mils）

測(cè)量精度： 0～50　μｍ，     ± 0.25 μｍ；

         50～1000μｍ，    ± 0.5 ％；


        1000～1500μｍ，    < 2.5%

配置ED10 兩用探頭配合，可具備磁感應(yīng)和渦流兩種測(cè)量功能。

  探頭 ED10 設(shè)置為兩用時(shí)的測(cè)量參數(shù)：

        磁感應(yīng)：測(cè)量范圍：  0～800 μΜ（0～32 mils）


        渦 流：測(cè)量范圍：  0～800 μΜ（0～32 mils）

  探頭 ED10 設(shè)置為單用時(shí)的測(cè)量參數(shù)：
        磁感應(yīng)：測(cè)量范圍：  0～1500μΜ（0～60 mils）
                測(cè)量精度：  0～50  μΜ：  0.2 μΜ
                         
  50～1500μΜ：  1 ％
        渦 流：測(cè)量范圍：  0～1200μΜ（0～48 mils）
               測(cè)量精度：  0～100 μΜ：  0.5 μΜ
                          100～1200μΜ：  0.5  ％