菲希爾X射線FISCHERSCOPE X-RAY XDL230的詳細(xì)資料：

菲希爾X射線FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

?? 突破性檢測技術(shù)來襲！FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 測厚儀，以微米級(jí)精度重新定義工業(yè)質(zhì)檢標(biāo)準(zhǔn)！?

? 閃電測量
? 多層鍍膜無損分析
? 航空航天/電子/汽車全領(lǐng)域適配

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230菲希爾X射線鍍層測厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。FISCHERSCOPE X-RAY XDL230有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了FISCHER基本參數(shù)法，因此無論是對(duì)鍍層系統(tǒng)還是對(duì)固體和液體樣品，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測量和分析。XDL 230特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。